根据《华中科技大学科技成果转化管理办法》规定，对“数字图像异常区域分割和训练样本获取技术”成果转化相关事项公示如下：

一、成果名称及简介：

该成果包含如下2项知识产权：

（1）发明专利：一种芯片连晶缺陷识别方法

发明人：贺松平，钟富强，李斌，徐鑫，李达，吴文超，邱园红，魏康

专利号：ZL201510104034.X

专利权人：华中科技大学

简介：本发明公开了一种芯片连晶缺陷识别方法，该发明主要用于在芯片制造过程中识别含连晶缺陷的不合格芯片；包括三个步骤：步骤一，对采集到的芯片图片进行模板匹配，定位出芯片的位置，根据芯片的位置，对图片进行截取；步骤二，对截取获得的图片进行预处理，增大芯片基体与背景的差别；步骤三、对经过预处理的图片进行分割，获取blob块，对blob块进行特征分析：首先以面积为基准判断出是否含连晶缺陷；对面积正常的blob块，获取其blob块最小外接矩形的中心点以及四边中点的位置，以中心点以及四边中点位置信息为基准识别blob块对应的芯片是否含连晶缺陷；本发明提供的芯片连晶缺陷方法在的识别率上有很大的提高。

（2）专利申请权：一种用于工业大数据处理的训练样本生成方法

发明人：李斌，牛拴龙，唐立新，林惠，邱园红，李言洲，牛通之，王博，郝雪桐，李西凯，魏富春

申请号：201811297153.1

申请人：华中科技大学

简介：本发明属于图像处理领域，并具体公开了一种用于工业大数据处理的训练样本生成方法，包括：构建各类工业图像数据集，并根据各类工业图像数据集中的数据量划分出大样本数据集与小样本数据集；构建工业图像生成对抗网络及优化目标函数，基于优化目标函数对工业图像生成对抗网络进行迭代训练获得小样本生成参数模型；将大样本数据集中的大样本图像输入训练获得的小样本生成参数模型中以生成小样本图像，以此完成训练样本的生成。本发明无需对工业图像进行复杂的数字图像处理操作，也无需对原始工业图像进行各种变换，可以避免过多的人工干预，减少操作人员专业素养造成的工业图像生成的误差。

二、拟交易价格

普通许可：20万元

三、价格形成过程

经全体发明人同意，并与武汉智能装备工业技术研究院有限公司协商，双方同意该成果以协议定价20万元实施普通许可，许可期限为自合同签订之日起十年。

特此公示，公示期15日，自2020年3月3日起至2020年3月17日。如有异议，请于公示期内以书面形式实名向我办反映。

联系人：臧老师

联系电话：027-87540925,15846590898

科技成果转化办公室

2020年3月2日